Descriçion
Parametri tecnichi
Introduçion do produto
A tecnologia de circuiti à pellicola sottî a fa referensa a-a formaçion de componenti elettrònichi pe mezo da fotolitografia dòppo che o substrato o l’é stæto depoxitou a-o veuo inte un pellicolo sottî. Sta tecnologia a l’é vegnua a metodologia preferia pe produe di circuiti à microstrisce apreuvo a-a seu larga gamma de parametri de componenti, erta preçixon, boña coerensa de lotti, erta affidabilitæ e boñe caratteristiche de frequensa de temperatua. A l’é applicâ pe-o ciù inte l’elettrònica medica, inti computer à erta speditessa, inte arme e inte attrezzatue, inte l’aerospaçio e inte di atri campi.



Direçion da reçerca
L’avvegnî di produti à circuito de pellicola sottî o l’é inta direçion de struttue de dimenscioin de linie ciù picciñe, unna qualitæ e preçixon grafica ciù erta, unn’affidabilitæ ciù boña, un volumme reduto e de bande de frequensa d’applicaçion ciù erte.
Proçesso tecnològico
Perforaçion → Sputter → Ispessimento do seu de pellicola→ Foto-attacco → Grattaggio → Verifica
Test do produto
1,Articoli de prova: Apparensa
Strumenti de verifica: Stereomicroscòpio
Metodi de verifica: Metodo GJB548B 2032
Indiçe Tecnico: l'80% de parte grafiche son complete, e no gh'é nisciun resciduo de metallo vixibile inte aree no -grafiche
2,Elementi de prova :Dimenscion complesciva
Strumenti de verifica : Pinza Vernier, Micròmetro elettrònico,Strumento de mesuaçion de l'immagine
Metodi de verifica: GJB548B, Metodo 2016
Indiçe tecnico:
| Elaboraçion | Normale | Erta preçixon |
| Metodi | Errô de preçixon | Errô |
| Pria de moî | Meno ò pægio à ± 50 μm | Meno ò pægio à ± 25 μm |
| Laser | Meno ò pægio à ± 100 μm | Meno ò pægio à ± 50 μm |
3,Articoli de prova: Grafica de metallo litografica
Strumenti de preuva :Strumento de mesuaçion de l'immagine ,Microscòpio metallografico
Metodi de verifica: GJB548B, Metodo 2016
Indiçe tecnico:
| Oggetto | Errô |
| Incixon davanti e derê | Meno ò pægio à ±25 μm |
| Incixon do mæximo lato | Meno ò pægio à ±25 μm |
| Dimenscion da riga | ±5 µm |
4, Articoli de prova: Adexon de membraña
Strumenti de prova: Nastro adescivo 3M610
Metodi de verifica: Metodo de verifica de nastro ASTM B571-97
Indiçe tecnico :Sotta un microscòpio 40X, no s’é osservou nisciun fenòmeno de descroxo in sciô seu de membraña inte nisciuña forma
5, Articoli de prova: Rescistensa à l'erta temperatua do seu de membraña
Strumenti de preuva:Stage cado
Metodi de prova :Mantegnî a-i 400 graddi pe 10 menuti
Indiçe tecnico: sotta un microscòpio 40X, no gh’é de descoloraçion, descorte, vesciche ò descorte do seu de membraña inte nisciuña forma
6,Atri indiçi tecnichi
| Oggetto | Indiçe tecnico |
|
Pe-o buxo |
Spessore do substrato × 0,8 |
|
A Distansa Minima da-o Banda de guidda a-o bordo da porçellaña |
0,050 mm |
| Larghessa minima de linia litografica | 0,015 mm |
| Rexistensa | ±10% |
Tagde cadi: tecnologia de circuito de pellicola sottî, Ciña produttoî de tecnologia de circuito de pellicola sottî, fornitoî, fabrica
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